분석실 안내
DONG-A UNIVERSITY
구조분석실
전계방사형 투과전자 현미경
FE-STEM (Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)
FE-STEM (Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)
| 모델명 | Talos F200X |
|---|---|
| 제작사 | Thermo Fisher Scientific |
| 설치장소 | 동아대학교 공대2호관(S04) 0101호 |
| 문의전화 | 051)200-6376 |
| 기기담당자 | 손광석 |
원리 및 특징
전계방사 방식의 고에너지 전자빔(200/80kV)을 활용하여 일반 투과전자현미경의 모든 기능에 더하여 집속전자빔을 투과시켜 주사투과전자현미경(STEM) 영상을 얻을 수 있음. 소재의 두께 및 strain의 영향이 적은 명시야상과 원자단위의 원소 구별이 가능한 HAADF 및 EDS mapping이 가능
활용분야
- Convential TEM의 모든 기능
- Scanning TEM : BF, ADF, HAADF
- Fast EDS mapping
- TEM and STEM tomography
- EDS tomography
사용수가
| 모델명 Talos F200X |
교내 | 교외 | 비고 | |
|---|---|---|---|---|
| TEM(STEM,EDS) | 시간 | 60,000 | 100,000 | |
| Tomo(TEM,STEM,EDS) | 30,000 | 50,000 | 1개/일 제한 | |